一.概述： 
物位測量的儀表在選用時，與壓力或是流量測量等儀表有很大的不同。這主要是因為物位測量的現(xiàn)場情況千差萬別，而生產(chǎn)商又很難設(shè)計出能滿足所有工況應(yīng)用的物位儀表。只有充分的了解儀表特點及現(xiàn)場應(yīng)用條件，才能正確的選擇所需要的產(chǎn)品，同時需要充分發(fā)揮儀表的測量性能。 


在非接觸式物位測量的儀表中，一般是有超聲波物位計和雷達物位計兩種儀表，而后者占有了主要的地位. 這是因為雷達技術(shù)的應(yīng)用近年來獲得了快速發(fā)展. 雷達物位計中高頻頭和天線都是眼睛，回波處理是物位計的大腦。雷達物位計發(fā)出的電磁波遇到了被測介質(zhì)反射，反射回波的質(zhì)量反映了物位計應(yīng)用的效果?；夭ㄙ|(zhì)量的定義為最小回波幅度（在最惡劣的條件下回波幅度）與最大噪聲幅度（虛假回波、多徑反射波等）之比?；夭ㄙ|(zhì)量的數(shù)值越大，物位計測量效果越好。 

雷達物位計的回波質(zhì)量主要受以下原因的影響: 
1.傳播的介質(zhì)介電常數(shù)，該常數(shù)越穩(wěn)定越是有利于傳播。雷達波是電磁波，電磁波在傳播的過程中不受傳播介質(zhì)穩(wěn)定程度的影響，只是與其介電常數(shù)有關(guān)。這是雷達技術(shù)與超聲波技術(shù)的區(qū)別。
2.被測介質(zhì)的是表面狀況，表面越平整，其介電常數(shù)越大，則越有利于對回波反射。 

所以考慮到現(xiàn)場情況時，應(yīng)當特別注意這兩個方面：
1.天線到被測介質(zhì)的空氣時，介電常數(shù)的分布。
2.被測介質(zhì)的表面狀態(tài)及其介電的常數(shù)。 

雷達物位計的優(yōu)點是：
不受空氣波動的影響，隨距離衰減小，穿透力強。 
同時雷達物位計也存在有一定的局限性；

其一，影響雷達物位計的性能介電常數(shù)，在真空中雷達衰減是極小，當空氣中存有影響雷達衰減的物質(zhì)時，例如：有高介電性的粉塵粉末（石墨，鐵合金等），水蒸氣等，它的測量距離和效果都會受到影響。

其二，如果被測介質(zhì)的揮發(fā)氣體在天線上聚集，或是水蒸汽在天線上聚結(jié)，此時，就會影響到雷達波發(fā)射，嚴重時可導致雷達波不能發(fā)出。 

其三，被測介質(zhì)的介電常數(shù)不能太小了

其四，盡管溫度和壓力對雷達影響是極小的，但是由于雷達天線是由不同材料做成，雷達物位計可適應(yīng)于溫度和壓力的范圍是取決于其天線所使用的材料，與物位計本身的密封結(jié)構(gòu)。